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            二次離子質譜儀

            賽默飛化學分析儀器
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            二次離子質譜儀

            二次離子質譜儀

            二次離子質譜儀是用來檢測材料的一種儀器,即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來,然后再檢測出離子組分并進行質量分析,二次離子質譜儀是對微粒進行同位素分析的有力工具,是利用質譜法分析初級離子入射靶面后,濺射產生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。
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            PHI TRIFT V nano SIMS飛行時間二次離子質譜儀

            PHI TRIFT V nano SIMS飛行時間二次離子質譜儀

            • 品牌: 日本Ulvac-Phi
            • 型號: PHI TRIFT V nanoTOF
            • 產地:日本
            • 供應商:高德英特(北京)科技有限公司

              ??飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)是一種表面敏感的技術,提供表面分子,元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素,包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上,該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率(在實踐中通常是大約10000amu)。PHI TRIFT V nano飛行時間質譜儀PHI TRIFT V(三次對焦飛行時間)飛行時間質譜是一種高傳輸、并行檢測儀器,其目的是由主脈沖離子束轟擊樣品表面所產生的二次離子可以得到最佳的收集狀態,并可同時用于有機和無機表面特征分析。TRIFT分析儀的工作原理會把離子在光譜儀中不斷的重新聚焦。使二次離子質譜允許更多重大的實驗得以進行。主離子束最先進的設計,允許經由計算機控制去同時達到高橫向分辨率的成像和高質量的圖譜分辨率。PHITRIFTVnanoTOF是第五代SIMS儀器,該儀器具有獨特的專利時間飛行(TOF)分析儀,它擁有市場上TOF-SIMS儀器中最大的角度和能量接受標準,實現了高空間分辨率質量分辨率和使用具有優良離子傳輸能力的三重重點半球形靜電分析器。PHITRIFTV nanoTOF還具有很高的能力,可以圖像具有非常復雜的幾何形狀的樣本而沒有陰影。?特點:l 廣大的收集角度和景深立體角:此優點體現在上面的圖片。圖片可以清楚觀察到,由主離子束探測到的信號是從樣品所有部位收集來的。即使在彎曲的表面,如頭發,信號以統一強度來采集同時保持能力解決這樣的小特征,如個別毛干上的角質層。l 單束C60深度剖析:PHIC60離子的小光束直徑探針是獨特的,有利于特定的化學分子離子的微米級特征成像。此外,結合擴展的配置范圍和經單束C60深度剖析改進的二次離子產量深讓分析師有獨特的有機深度剖析能力與最高靈敏度的二次離子結構。????l 低背景和亞穩抑制:下面數據說明了TRIFT質譜儀在亞穩態拒絕 (Metastable Rejection) 的固有能力。一個比較Reflectron和TRIFT為基礎的分析儀所取得的聚(四氟乙烯)和(聚四氟乙烯)的質譜顯示了在沒有減少二次離子信號下TRIFT分析儀優秀的抗亞穩態干擾能力。事實上,也增強了化學成像的能力,因為二次離子信號沒有迭加在非化學的背景信號上。l 加熱和冷卻的完整5軸樣品運行:完整的X,Y,Z軸旋轉和傾斜運動可同時把樣品加熱到(RT至+600oC)或冷卻(-130至+150oC)。加熱或冷卻工序在樣品引入,轉換,取樣時的溫度監測和控制在沒有任何中斷的情況下完成。樣品臺提供X和Y軸+/-50毫米運行范圍和1μm的分辨率和20毫米的Z軸行程和2微米的分辨率,同時保持優于±2℃樣品溫度的控制。l 雙束電荷中和的絕緣體分析:采用專利技術的nanoTOF的電荷中和采用了雙束的方法,非常低能量的離子束和電子束。由飛行時間二次離子質譜儀器從一件表面安裝了碳磁帶的批量聚合物所獲得的數據。即使樣品是厚,奇形的絕緣體,使用雙光束電荷中和也可以得到高分辨率數據。??l 脈沖二次電子成像:nanoTOF的TRIFT分析儀的設計,是唯一能夠從絕緣和導電標本收集脈沖 SE圖像的儀器。通過脈沖模式(質譜操作)偏轉主離子生成的二次電子(相對較重的二次離子有較高的速度比) 到位于分析儀SED里面,同時通過雙重多通道板(DMCP)探測器。?l FIB - TOF三維材料特性:TRIFT分析儀的內在特性可以通過成像FIB銑削坑的垂直型墻而不必傾斜樣品。因此,材料的全3D特性化在連續FIB銑削和TOF-SIMS采集周期是可能的,而其三維圖像重建也可以非常簡單,因為樣本在FIB銑削和TOF-SIMS數據采集期間是不需要移動的。?????l 原始文件的回溯性數據分析:用戶可以選擇四種不同的模式來進行數據解釋:(1)總離子圖,(2)總面積譜,(3)區域性質譜,(4)特定離子分布。????應用:l 油漆和OLED材料:油漆層和缺陷層內的特征化,高質量碎片特點化。l 薄膜和涂料:分析有機涂層,有機和無機涂料的成像分布。l 無機及半導體設備:晶圓工藝殘渣物,缺陷分析,蝕刻/清潔殘留分析,微量金屬污染物留在晶圓工藝;三維成像表征摻雜元素。l 磁存儲:殘留物留在媒體的地表,來自于工藝的污染,包括有機和無機物,故障分析,潤滑分析。l 擁有控制藥物釋放涂料的藥物:藥物截面成像,新的藥物釋放涂層的表征與發展。l 組織橫截面分析:研究組織和細胞。?

            Waters Xevo TQD 三重四極桿質譜

            Waters Xevo TQD 三重四極桿質譜

            • 品牌: 美國沃特世
            • 型號: Xevo TQD
            • 產地:美國
            • 供應商:沃特世科技(上海)有限公司

              耐用、穩定而可靠的Xevo TQD沃特世整套UPLC/MS/MS常規定量應用解決方案可確保系統達到最高的靈敏度、選擇性和穩定性而且操作簡便。借助無與倫比的穩定性使儀器系統的正常運行時間達到最大化加快靈敏穩定的方法的開發速率降低復雜度,提高易用性并確保分析結果始終正確最大限度增加處理量,同時又不會降低數據質量既擁有當今最寬泛的電離能力,又著眼于未來的創新檢驗借助無與倫比的穩定性使儀器系統的正常運行時間達到最大化快速不間斷的分析需要一臺能始終給出準確結果的既可靠又穩定的儀器系統。加快靈敏穩定的方法的開發速率您不會再受到與基質效應相關的復雜因素和不確定性的干擾。得益于RADAR?,方法開發成為一種智能化過程,它將定量數據與定性數據相結合以直觀顯示完整樣品,從而在樣品制備和色譜方法開發過程中實現了數據導向性決策。在RADAR模式下,您既可監測樣本中的基質干擾物、代謝物、雜質和降解產物,同時又可準確對目標化合物定量。確保結果始終正確準備——IntelliStart和Quanpedia可快速對系統進行自動設置和檢查,同時自動生成所有的MRM通道,使得系統性能最大化。分析——QCMonitor將主動監控實時數據,當超出用戶指定的任何設置限定時采取措施。解讀——TargetLynx可自動進行定量分析和結果報告,并能自動標注十分清晰的標記以降低出錯幾率。決定——TrendPlot使您可直觀查看多天、多周或多月內的結果;這為分析數據趨勢和長期系統性能提供了寶貴信息。最大限度增加處理量,同時又不會降低數據對UPLC的典型窄峰(峰寬2-3秒)進行準確定量需要較高的采集速度以確保數據質量。不論您在同一方法中只分析一種化合物,還是分析數百種化合物,T-Wave碰撞室均可確保UPLC在色譜分析速度和分離度方面的優勢得到充分發揮。永不過時的創新技術Xevo系列的通用離子源結構擁有最廣泛的電離技術范圍以及剛剛面世的電離技術創新成果。您在試驗選項方面將擁有無限選擇。當您需要某些選項而又時間緊迫時,可在離子源之間進行快速轉換,幾分鐘即可使用。注意:本頁面內容僅供參考,所有資料請以沃特世官方網站(www.waters.com)為準。

            AB Sciex API 4000+ ? LC/MS/MS 系統

            AB Sciex API 4000+ ? LC/MS/MS 系統

            • 品牌: 美國SCIEX
            • 型號: API 4000+
            • 產地:美國
            • 供應商:AB SCIEX公司

              創建質譜定量的黃金標準API 4000+? 三重四級桿串聯質譜系統    行業黃金標準的API 4000+? LC/MS/MS系統能為藥物開發科學家提供全面支持,包括藥物研發到臨床試驗提供高質量的定量分析和定性分析數據。此系統從業界廣為認可和考驗的API 4000?發展而來,提供更加優異的靈敏度和重現性,并提高整體性能的耐用性,可確保在食品、環境樣品中的藥物殘留痕量分析、刑偵毒物樣品分析以及臨床研究分析中數據的可靠性。結合功能強大的Analyst?軟件,此系統可提供藥物開發中對DMPK信息的快速訪問。    API 4000+?系統是從進一步提升API 4000?系統的性能發展而來,確保AB SCIEX高性能和穩定耐用的高貴品質。API 000+?系統包括:新設計的真空系統,使整個質譜系統更穩定可靠先進設計的電子系統,確保數據質量創新的Turbo V?離子源—離子化效率高,高靈敏度的定量分析,適應寬范圍的液相流速LINAC?碰撞室技術—快速掃描功能專利的氣簾接口—降低交叉污染,提高離子化效率可適應液相的高流速性能—降低離子抑制現象,自清潔探頭設計,可靠的接口設計為高通量、高效率分析提供了保證可選的DuoSpray?離子源—快速方法開發和增加分析通量可選的PhotoSpray? 離子源—擴展了儀器的應用領域行業標準的視窗分析Analyst? 軟件也是GLP認證的工具,也符合21 CFR PART 11法規可選的NanoSpray? 離子源—提高了低流速條件下

            二次離子質譜工作站

            二次離子質譜工作站

            小型二次離子質譜儀

            小型二次離子質譜儀

            • 品牌: 英國Hiden Analytical
            • 型號:
            • 產地:英國
            • 供應商:北京英格海德分析技術有限公司

              儀器簡介:1.適合做多層薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。 3.方便使用。 4.樣品可以手動轉換,由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。 5.我們的系統可配置快速原子槍,使我們可以輕松處理絕緣的樣品。 6.我們還可以做元素成像(就象化學地圖)和混合模式掃描,自動測量正、負和中性粒子。 7.我們的系統是典型的超高真空工作臺,很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊,但不損失性能。真正的高性價比。技術參數:質量數范圍:300,510或1000amu 分辨率:5%的谷,兩個相連的等高峰。 檢測器:離子計數檢測器,正、負離子檢測 檢測限:1:10E7 質量過濾器:三級過濾四極桿(9mm桿) 主離子槍: A,氧離子或其它氣體,能量到5KeV B,Ga離子槍,能量25KeV(選配) 空間分辨率:A:100~150um B: 50nm 取樣深度:2個單分子層(靜態) 不受限制(動態) 主要特點: 高靈敏度脈沖離子計數檢測器,7個數量級的動態范圍 SIMS 成像,分辨率在微米以下 光柵控制,增強深度分析能力 所有能量范圍內,離子行程的最小擾動,及恒定離子傳輸 差式泵3級過濾四極桿,質量數范圍至1000amu 靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護 通過RS232、RS485或Ethernet LAN,軟件 MASsoft控制

            二次離子質譜探針

            二次離子質譜探針

            • 品牌: 英國Hiden Analytical
            • 型號: EQS
            • 產地:英國
            • 供應商:北京英格海德分析技術有限公司

              儀器簡介:EQS是差式泵式二次離子質譜(SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe),可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用最新技術的SIMS探針,便于連結到現有的UHV表面科學研究反應室。技術參數:應用: 靜態 /動態SIMS 一般目的的表面分析 整體的前端離子源,便于RGA和 SNMS 兼容的離子槍/ FAB 槍 成分/污染物分析 深度分析 泄漏檢測 與Hiden SIMS 工作站兼容主要特點: 高靈敏度脈沖離子計數檢測器,7個數量級的動態范圍 SIMS 成像,分辨率在微米以下 光柵控制,增強深度分析能力 45°靜電扇形分析器, 掃描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范圍內,離子行程的最小擾動,及恒定離子傳輸 差式泵3級過濾四極桿,質量數范圍至2500amu 靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護 通過RS232、RS485或Ethernet LAN,軟件 MASsoft控制

            TRIPLE QUAD? 3500質譜系統

            TRIPLE QUAD? 3500質譜系統

            • 品牌: 美國SCIEX
            • 型號: TRIPLE QUAD? 3500
            • 產地:美國
            • 供應商:AB SCIEX公司

              經典傳承的AB SCIEX Triple Quad? 3500質譜系統  從今天起…助力您實驗室的成功您所需要的卓越性能先進設計—高效性能、高效率 每針進樣采集更多的化合物—絕對可靠的定量從不丟失色譜峰– 高靈敏度和高質量數據采集方法出色的運行時間–檢測更多的樣品,提高實驗室生產效率,并且維護次數更少快速獲得結果- 快速,高通量,簡化的數據處理工具服務與支持資源助力您的成功  Triple Quad? 3500質譜系統具有最優化的性能,并采用先進的設計和電子器件,增強了它的性能。您所期望的AB SCIEX儀器的耐用性和重現性由經典的Turbo V?源和氣簾氣?接口技術得以實現。一次進樣采集更多對MRMs,更節省空間的設計彎曲 LINAC?碰撞池通過更有效的離子聚焦提高靈敏度高壓Q0和QJET?離子導入設計兼容快速LC,并實現更廣泛的化合物覆蓋度快速的eQ?電子系統高重復性和準確度的AcQuRate? 脈沖計數檢測器化合物質量范圍:5-2000 Da長時間運行臟樣品,仍然能獲得穩定的結果Turbo V?源和氣簾氣?接口

            二次離子飛行時間質譜

            二次離子飛行時間質譜

            • 品牌: 英國Kore
            • 型號: SurfaceSeer
            • 產地:英國
            • 供應商:香港皆能(亞洲)有限公司

              SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飛行時間二次離子質譜儀,用于研究樣品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研發經驗生產出獨特的儀器,第一次將材料表面分析技術引入到可負擔得起的日常常規分析范圍中。可在最短的分析時間內生成化學圖像,突破常規實驗室儀器的極限!SurfaceSeer分析儀采用功能強大的二次離子質譜SIMS技術,結構緊湊,僅需一個標準電源,可放置于任何場所使用。SurfaceSeer應用廣泛,是一臺高性價比的實驗室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對較低的維護成本和較高的樣品分析速度,保證其單個樣品分析成本明顯低于商業實驗室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負擔得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。TOF-SIMS 二次離子質譜儀 (SIMS) 是材料表面分析最重要的技術之一,SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學組成。所獲取的信息遠超過簡單的元素分析,可以識別有機組分的分子結構。TOF-SIMS 的關鍵功能是原位無損分析表面區域 (靜態SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束(成像SIMS)建立無損表面的化學成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面,對表面作深度剖析(動態SIMS)。只需極少的樣品前處理,極短的時間內就可獲得高靈敏度的分析結果 。SurfaceSeer特點l 單層表面信息l 檢測所有元素l 識別有機物l 高靈敏度分析l 快速化學成像l 薄膜深度剖析l 設計緊湊l 經濟適用,友好的用戶界面SurfaceSeer擁有功能強大的樣品處理裝置提供各種樣品支架,可裝載不同厚度和直徑的樣品。SurfaceSeer檢測未知樣品如同檢測已知樣品那樣簡單,對未知樣品具有超強的分析性能, 可研究微小區域的表面,并可提取更多的有機樣品信息。SurfaceSeer質譜儀可同時分析所有元素及有機物,可消除有機物和元素干擾,使譜圖更清晰,檢測限更低,能更有效地分析材料樣品。 SurfaceSeer所有儲存的數據都能用于溯源性分析。數據處理軟件允許分析數據和樣品的化學構成信息進行全面的交互提取。SIMS擁有的常見材料譜庫可幫助識別未知物。SurfaceSeer應用領域:l 表面涂層與處理l 電子元件l 半導體l 電極與傳感器l 潤滑劑l 催化劑l 粘合劑l 薄膜l 包裝材料l 腐蝕研究l 大學教學與科研SurfaceSeer-I能以正負TOF-SIMS模式產生“化學地圖”,其分析的空間分辨率約為0.5微米,質量分辨率優于3000(3000以上)。SurfaceSeer-S是以正負TOF-SIMS模式進行分析研究的“利器”,質量分辨率優于2500(2500以上)。詳細技術指標,敬請來電咨詢!

            SAI MiniSIMS alpha二次離子質譜儀

            SAI MiniSIMS alpha二次離子質譜儀

            • 品牌: 英國SAI
            • 型號: MiniSIMS alpha
            • 產地:英國
            • 供應商:北京華沛智同科技發展有限公司

              MiniSIMS alpha二次離子質譜儀是MiniSIMS系列的入門級儀器。這種高樣品量的儀器是開發樣品特定性質的理想選擇。不論是按照已知標準進行質量控制,還是研究/工藝優化中多種樣品的比較分析,該儀器都非常高效。這種情況下,預設分析條件意味著不同的操作者可以獲得相同數據。通常情況下,每個樣品的分析時間最短5分鐘。MiniSIMS alpha二次離子質譜儀可以配置輔助電子探針來分析絕緣性樣品。MiniSIMS alpha二次離子質譜儀與MiniSIMS所有性能一樣,輔助電子探針可以自動操作,使用方便。寬范圍的分析能力每臺MiniSIMS alpha二次離子質譜儀都具有三種操作方式:靜態表面模式(靜態SIMS)、成像模式(成像SIMS)、深度成像模式(動態SIMS)。這不同于其他昂貴的SIMS儀器,那些儀器通常被優化成或者只用于表層的靜態分析,或者只用于次表面區域的動態深度分析。

            MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀

            MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀

            • 品牌: 英國SAI
            • 型號: MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀
            • 產地:英國
            • 供應商:北京華沛智同科技發展有限公司

              MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀在探測未知樣品、研究較小區域的表面特征、從有機樣品中獲取更多信息方面。性能卓越探測未知樣品飛行時間質譜(ToF)的引入使得MiniSIMS的性能躍升到一個新的水平。MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀對未知樣品的測定與測量已知組分一樣容易,這使得該儀器非常適合研究性應用。在失效分析中,比如污染鑒定,發現的額外細節有助于準確的查明問題的確切原因。創新的設計使得該儀器使用簡便、結構緊湊。不僅處理功能強大,儀器操作也進一步簡化,在實際分析中,基本不需要操作者的判斷。如果需要的話,可存儲的完整的三維數據可供有經驗的操作者進行進一步評估。高級分析MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀可以同時分析各種元素和有機物質,更有效地利用了樣品材料。儀器性能的提高保證了對較小區域特征的全面分析。這種模式下,有機光譜的質量得到了顯著提高。這種優勢與拓寬的光譜質量范圍相結合,獲得了更多關于有機材料的詳盡信息,便于與數據庫中的譜圖進行對比分析。MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀同樣能夠區分常規有機物和元素的干擾,使數據更加清晰,檢測限更低。

            CAMECA 大型二次離子質譜儀

            CAMECA 大型二次離子質譜儀

            • 品牌: 法國Cameca
            • 型號: IMS 1280-HR
            • 產地:法國
            • 供應商:法國cameca公司

              IMS 1280-HR是大型磁質譜二次離子質譜儀,具有超高靈敏度,針對地質科學與環境領域廣泛的分析需求而專門設計的。在地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展現了無與倫比的性能。 K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection) Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection) 繼承了IMS1280的諸多優勢: 靈活多用的多接受系統,尤其適于用于同位素分析。 兩種具有反應活性的的一次離子源,在數據采集的同時可對其進行監控。 具有高度再現能力的樣品臺 NMR高分辨磁場控制 獨有的圖像功能 完全計算機化自動工作,可遠程監控 1280-HR的新增性能: 通過加入一個新的六極靴,對耦合進行了重新設計,減少了軸上二次畸變。 多接受模式下,峰形得到很大的改善。 優化了真空以降低背底,有利于探測輕元素,氫化物。 在單接受模式以及高質量分辨率下,通過靜電壓跳峰,提高了穩定性 以上儀器的改進增強了高質量分辨率下的的傳輸型,因此提高了整體性能。 詳情參見英文版介紹,不容錯過:http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims1280.aspx

            CAMECA 二次離子質譜儀

            CAMECA 二次離子質譜儀

            • 品牌: 法國Cameca
            • 型號: IMS 7f
            • 產地:法國
            • 供應商:法國cameca公司

              CAMECA 二次離子質譜儀(IMS 7f)的主要優勢在于其極高的靈敏度、高空間分辨率(亞微米級橫向分辨率,納米級深度分辨率)以及同位素分辨本領。因其 ppb 水平檢測極限以及高分析速度和可靠性,IMS 7F 成為遍布全球的眾多獨立分析實驗室的主力軍。 CAMECA的SIMS技術領先世界。無與倫比的性能得益于其獨有的基于磁扇區原理的儀器設計。 靈敏度:CAMECA IMS 7f 工作是的有效離子產率(useful yields- secondary ion detected per atomsputtered)比四極桿分析器高達100倍。做一次通常的深度剖析或者成像分析,以獲得同樣靈敏度所用時間相比,是TOF類SIMS的千分之一。(或反過來說,同樣的分析時間,TOF SIMS的靈敏度要低達1000倍)。 質量分辨: CAMECA IMS 7f 可以分辨絕大多數質譜中存在的質量干擾,例如,31P與H30Si, 56Fe與28Si or 17O與H16O。這些干擾使得低質量分辨率質譜儀(比如四極桿類型)的探測極限大打折扣。CAMECA的SIMS獲得高質量分辨率的同時并不會降低分析速度,這是TOF質譜儀無法做到的。 離子成像:CAMECA IMS 7f 可以對所選質量給出顯微鏡模式的圖像,分辨率達到一微米。從時間上看,這種模式下獲得圖像的速度比常規的掃描圖像模式(microprobe mode)要高幾個數量級。這種模式下還可以大大縮短調試設備的時長。 若想獲得亞微米級分辨率的圖像,CAMECA IMS 7f 需要采用微探針模式,依靠動態光學傳輸以及高亮離子源達到業界最高水準的靈敏度和分辨率。 高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode. Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe 詳情參見英文網站,精彩不容錯過:http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims7f.aspx

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